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業(yè)內(nèi)曝三星3nm GAA存在漏電等關(guān)鍵技術(shù)問題,難與臺積電匹敵

2021年8月30日 15:35  集微網(wǎng)  作 者:思坦

據(jù)業(yè)內(nèi)人士透露,三星電子的 3nm GAA 工藝目前仍面臨著漏電等關(guān)鍵技術(shù)問題,消息人士稱,該工藝在性能和成本方面可能也不如臺積電的 3nm FinFET 工藝。

據(jù)《電子時報》報道,上述人士表示,三星可能最早于 2022 年將其 3nm GAA 工藝量產(chǎn),但由于成本高和性能不理想,可能無法吸引到臺積電 3nm FinFET 工藝所獲得的客戶,后者據(jù)稱已經(jīng)獲得了蘋果和英特爾的訂單。

臺積電有望在 2022 年下半年將其 3nm FinFET 工藝推向量產(chǎn),CEO 魏哲家在最近的財報會議上表示,“N3 將是我們 N5 的另一個全面擴展,并將采用 FinFET 晶體管結(jié)構(gòu),為我們的客戶提供最佳的技術(shù)成熟度、性能和成本。”

在失去蘋果 iPhone處理器訂單后,三星在尖端芯片競爭中落后于臺積電。據(jù)市場觀察人士稱,從蘋果手中奪回訂單將是這家韓國供應(yīng)商贏得 3nm 競爭的關(guān)鍵。

編 輯:章芳
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